|
动态颗粒图像分析仪
世界上*能对快速移动颗粒直接进行粒度大小和粒形分析的快速图像分析仪－QICPIC（Quick Picture）
原理：
从频闪光源发出的频闪光，经过光束扩束器，得到平行的频闪光，在测试区域频闪光照射在分散好的单个颗粒上，经过拥有的光学成像系统，得到每个颗粒清晰的图像和全部样品的粒度分布。
不同评估参数及模式：
| 与物料特性相适应 | |
| 规整的颗粒 | 等效投影圆面积径 | 球形度 | 宽长比 |
| 细长型 | Feretmax | Feretmin | 凸度 | 宽长比 |
| 纤维状 | LEFI | DIFI | VBFD | 平直度 | 伸长率 |
| 透明颗粒 | Feretmean | PED |宽长比 |
| 与其它测试手段的可比性 | |
| 筛分 | Feretmin | DIFI |
| 激光衍射 | 等效投影圆面积径 |
特点：
* *的光路设计，成像大小同物距无关
* *的频闪光源和高速成像系统，*同高效的分散系统相结合，对每个颗粒均能得到清晰的图像
* 频闪时间间隔 t ≈1 ns（即频闪率约为109次/秒），光源频率可以根据快速CMOS相机的快门频率进行调节（1-500Hz)
技术参数：
| 参数 | 指标 | 详细说明 |
| 型号 | QICPIC | 粒度范围：0.55－33792 微米（镜头可选） |
| 测试方法 | 动态成像法 | 颗粒在快速移动中进行测试 |
| 分散系统 | 自选组合式 | 根据物料原始状态不同，可选择不同的分散系统，直接分散干粉、浆料、悬浮液、乳浊液、纤维等 |
| 光 源 | 频闪光 | 脉冲间隔< 1 ns（频闪率约为109次/秒） 波长532 nm |
| 光束扩束器 | 根据量程不同可自动调整输出光束的直径：35 mm Ø, 16 mm Ø, 7 mm Ø | |
| 测试系统 | 高速成像系统CMOS | 像素：2048 x 2048 square pixels, 5.5x5.5μm2 |
| 灰度：256 (8 bit) | ||
| 拍摄速率 | 可达500幅/秒 | |
| 数据传输 | CoaXPress | 12.5Gbit /s, 25Gbit/s |
| 数据处理 | 粒度大小 | 等效投影圆面积径（EQPC）、Feret径、外接矩形径、弦长和Martin径等 |
| 颗粒形貌 | 球形度，长细比等、纤维长度、平直度、伸长率等 | |
| 粒度范围表征 | 可自定义, 在选定范围内 可达1,000,000个粒度区间 | |
| 结果输出 | 图像信息 | 可选择多种方式: 影像放映、粒度分布、特定颗粒信息等，结果可重现 |
应用范围
QICPIC广泛应用于食品行业、石油工业、纺织行业、饮料行业、医药行业、烟草行业等领域，可用于测试如纤维、芝麻、钢球、造粒小球、饮料中的果粒等物质的粒度粒形检测，并可应用于颗粒的计数。
结果输出：
根据物料不同的性质，可选取适合的表征值，进行结果的计算与显示。也可在获得样品的测试信息后，更换表征值或自定义值进行结果的重新计算。
扫一扫,关注我们
