“第十一届世界制药原料中国展”(CPhI, ICSE & BioPh China 2011)暨“2011世界制药机械、包装设备与材料中国展”(P-MEC China 2011)将于2011年6月21日至23日在上海新博览中心举办
公司展位号E1C05,届时将携干湿二合一激光粒度仪HELOS/OASIS(测试范围0.1-3500μm)、动态粒度粒形分析仪QICPIC(测试范围1-20000μm)、纳米激光粒度仪NANOPHOX(测试范围1-10000nm)、超声衰减粒度仪OPUS(0.01-3000μm),并有德国及中国工程师在现场为您做的介绍与解答。
德国新帕泰克的干湿二合一粒度仪HELOS/OASIS,结合干法与湿法测试的双重优点,分散效果好、测试速度快、性与精度高。
动态粒度粒形仪QICPIC在分析粒度分布信息的基础上,提供粒形信息,为以颗粒形态为表征的行业与分析研究院提供了包括球形度、长宽比、纤维长度等更多参数的信息。
纳米粒度仪NANOPHOX使用PCCS的原理,消除多重散射的影响,测试浓度高,性好,同时提供稳定性分析,是分析纳米粉体的*选择。
诚挚欢迎各界人士的莅临展位交流!
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