粒形分析仪的测量技术

　　粒形分析仪的测量技术

　　粒形分析仪拥有双ＣＣＤ成像技术，包括基准镜头记录大颗粒的粒度和形态信息，聚焦镜头记录小颗粒的粒度和形态信息。两个镜头既可单独使用也可同时使用，因而能在一个很宽的粒度范围内得到具有重现性的数据结果。一次进样，同时测得粒度大小、粒度分布、球形度、对称性、凹凸度等颗粒综合信息。

　　粒形分析仪*了样品折射率测量技术，对未知折射率的新材料也能得到的粒度测试结果。粒形分析仪采进口半导体泵浦激光器，寿命大于25000小时；采用进口的高精度透镜组，了微弱的、各角度的散射光信号无一漏网；采用进口的高速CCD与高像远心镜头，成像清晰无拖尾现象；采用高速颗粒识别技术，每分钟可分析几万个颗粒数目。总之，该仪器是集激光散射、显微成像于一体的新一代粒度测试仪器。

　　粒形分析仪采用激光光阻技术,不需要任何假设或样品特性,可直接测定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。这种*的分析技术,被称为“Laser Obscuration Time”激光光阻技术(LOT)。LOT与其他激光衍射技术相比的主要优势是其较高的分辨率,通过对小范围的检测从而得到更好的测量精度。使用LOT技术主要好处是,即使有任何其他颗粒或介质的物理或化学性质影响,仍得到可靠地测量结果。配套的软件,通过分析计算复杂的多脉冲信号光阻时间,可在几秒钟内得到清楚和精确的颗粒分布测量结果。粒形分析仪实时可视化采样,有效地让用户可以轻松地监测样品准备过程或受污染情况,同时也为了避免样品无关的或不必要的组分影响分析结果。